仪器校验中环境温度的影响

仪器校验中环境温度的影响
仪器校验热敏电阻功率计测量功率的原理是基于对温度敏感的热敏电阻元件的阻值变化。因此,热敏电阻座所处的环境温度的变化,将导致热敏电阻元件的阻值变化,使功率计量校验测量产生误差。
半导体膜热电偶式功率座的温度漂移比热敏电阻的温度漂移要小一个数量级。仪器校准实验证明,当用手握住热敏电阻座和半导体薄膜热电偶座时,一分钟后,热敏电阻座的温度变化带来的功率零点漂移大约为8 pw,而半导体薄膜热电偶座的温度漂移几乎是热敏电阻座的十分之一。 热敏电阻的温度系数差,它的温度漂移较大。因此环境温度对其影响大。

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